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中兴与Altair完成LTE IODT测试

来源:zhannewssf资讯网 2020-06-28 04:08:28 

北京时间2月18日凌晨消息(蒋均牧)据国外媒体报道,中兴通讯与半导体厂商Altair在各自的产品上完成了广泛的系统级互操作性和互用性测试(IODT)。这一测试的成功证实了这两家公司的LTE产品的性能和成熟度,不久后双方将进行现网测试。

测试在中兴的LTE基站设备与Altair最近发布的FourGee LTE USB ExpressCard UE之间进行。

据C114了解,截至2009年底,中兴已累计申请了1700多件LTE/SAE专利,并将成为LTE/SAE标准基本专利的主要拥有者之一。

据Altair的资料显示,FourGee LTE USB ExpressCard UE解决方案基于公司的FourGee-3100/6200宽带/RFIC LTE芯片,提供下行100Mbps和上行50Mbps的峰值速率,可在2700MHz频段间支持FDD/TDD LTE。

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